AFM and Ellipsometry Studies of Ultra Thin Ti Film Deposited on a Silicon Wafer求下载一篇文章.

来源:学生作业学帮网 编辑:学帮网 时间:2024/05/28 09:21:57

AFM and Ellipsometry Studies of Ultra Thin Ti Film Deposited on a Silicon Wafer
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沉积在硅晶片上的超薄Ti薄膜的原子力显微镜和椭圆偏振法研究
AFM:atomic force microscopy