xrd的横纵坐标啥意思

如何用origin8.0画XRD对比图没纵坐标的那种叠加图没有纵坐标的话,可以直接拖动你的一个XRD数据曲线（纵坐标随之改变,但是你的意思应该是不用管纵坐标值）,然后将纵坐标坐标等去除,就可以显示成没有纵坐标,只比较横坐标了,图是拖动的选项

PS上曲线的横纵坐标分别代表什么意思这样纯文子讲曲线不大好讲,你看下这个教程http://wenku.baidu.com/course/study/5ec1001ca300a6c30c229fac

XRD的原理是什么XRD的测试原理,是Bragg方程,即nλ=2*d*sinθ,其中λ为入射线波长,d为晶面间距,θ为衍射角.换言之,XRD对于晶体结构的测试才是有效的.因为晶体都会存在其特有的结晶学特征,也就是空间点阵,14种Bravai

XRD的原理XRD:X-RayDiffractionX射线也是一种电磁波,即光,虽然根据其波长范围有硬软X射线之分,但用于晶体结构测定的X射线都是硬X射线,其波长与晶体中原子间距离处于同一数量级上[10^(-10)m].当光照射到尺度与其波

XRD谱图峰窄宽代表什么意思XRD图谱峰窄宽代表什么意思,我的是纳米氧化铝,很尖锐的,写论文急用,请知道的人帮忙回答,鉴别物相首先从峰位入手,如果峰位能对上,初步判定为该物质；其次,还要看各衍射峰的强度相对比是否也与标准卡片上的峰强比一致,

plot(ff,abs(fft(r_info,q*FS))/FS);里面的横纵坐标什么意思plot(t(80:480),s(80:480))括号里又是什么意思plot(ff,abs(fft(r_info,q*FS))/FS);ff是横坐标,

XRD的英文整体缩写要比较一下某个相在某种原材料的不同参量下的结晶度或者分量有多少对空白样（没有参量的）做一个XRD检测,视为对比实验.

MAYAgrapheditor改变横纵坐标比例纵坐标单位200,我的曲线就是平的.摁住ALT+SHIFT拖动鼠标右键,上下或者左右可以分别伸缩长度和高度.

histogram直方图的横纵坐标分别是什么?histogram直方图我知道纵坐标是FREQUENCYDENSITY(密度),横坐标有没有要求一定要是什么数据?比如,一定要是人数?我现在有的数据是有一组10个人,以"一年内去A城市的次数"为

根据XRD怎么就算聚合物的结晶度看你的个人需要了.个人比较推荐X射线衍射曲线拟合分蜂法,当然要分峰了,还要出的峰比较漂亮.详细的还在钻研中~2.第一张图比第二张图高一般说明不了什么为题,你的峰值没有移动,因为XRD的图的强度（Intensi

根据XRD怎么就算聚合物的结晶度看你的个人需要了.个人比较推荐X射线衍射曲线拟合分蜂法,当然要分峰了,还要出的峰比较漂亮.详细的还在钻研中~2.第一张图比第二张图高一般说明不了什么为题,你的峰值没有移动,因为XRD的图的强度（Intensi

XRD衍射和晶体结构的关系?有谢乐公式可以算晶面间距,并且通过峰的位置判断晶面hkl值.你可以用jade软件分析.可以通过xrd衍射生成的数据分析晶体结构

XRD的y轴表示什么代表此处（角度）的衍射峰的强度.

膜的xrd和粉末的xrd的测定有什么区别XRD射线能穿透的深度一般是10到几十微米,如果你的膜比较薄,那么容易将基地的衍射峰带进来,这样给分析容易带来影响,XRD还可以测量膜的厚度；粉末的XRD主要就是物相的定性分析和定量分析,还有晶粒大小

怎样用xrd来区分晶型相同的物质?用xrd的原理来解释晶型相同但晶格常数不相同,所以晶面间距不相同,根据布拉格方程就能得出不同的衍射角,以此区分晶型相同的物质.XRD原理大概就是同一晶面上的原子反射的X射线，在某些特定角度干涉形成极大值，角

实验得到的XRD图谱,这图谱能说明什么问题?XRD图谱用来做什么的?首先:2THETA值与晶面间距d有关(BRAGG定律),所以,你可以根据2THETA的位置,得到晶系和晶胞参数.即也可以定性.再次:峰的高度,可以用来定量或解析晶体结构,如

XRD晶粒尺寸计算已有XRD图谱,怎么计算所测样品的晶粒尺寸?利用谢乐公式来计算谢乐公式的应用方法Dc=0.89λ/(Bcosθ)(λ为X射线波长,B为衍射峰半高宽,θ为衍射角)双线法（Williams-Hall）测定金属晶体中的微观应力晶

关于XRD衍射峰的问题XRD衍射峰上标有100,002,101,102,110,代表是晶体的晶面,比如100指的是100晶面.

XRD原理谁知道xrd的原理阿?给具体点.最好有仪器简图.X射线荧光衍射：利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子,使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学态研究的方法.按激发、色散和探测方法的不同,分为X射线光谱法(

XRD的分析我要对活性炭做XRD分析,需要提前做什么准备条件?研磨颗粒越细越好,然后确定扫描角度